Система рентгеновского контроля электроники HT100L

Цена по запросу

Описание

Система рентгеновского контроля HT100L разработана для инспекции полупроводников, SMT, DIP и различных электронных компонентов, включая IC, BGA, CSP и флип-чипов. HT100L использует технологию FPD высокого разрешения для обеспечения исключительного качества изображения, что позволяет обнаруживать дефекты размером до 2 мкм.

Функции и особенности:

Широкий спектр применения: предназначен для проверки полупроводников, SMT, DIP, электронных компонентов, IC, BGA, CSP и флип-чипов.
Высококачественная визуализация: использует FPD высокого разрешения для получения изображений превосходного качества.
Автоматическое позиционирование: программирование с ЧПУ позволяет выполнять автоматическое позиционирование и обнаружение наклона на 45° с небольшим углом раскрытия для комплексных проверок.
Улучшенная визуализация: навигационная визуализация в реальном времени в сочетании с улучшением HDR-изображения обеспечивает четкие и подробные изображения.
Расширенные измерительные инструменты: оснащены инструментами для измерения размера, площади, угла и кривизны, что обеспечивает точные и тщательные результаты проверки.

Технические характеристики:

Модель	HT100L
Рентгеновская трубка
Вид трубки	Герметичная трубка
Напряжение трубки	100 КВ
Ток в трубке	150 мкА
Детальное разрешение	2 мкм
Режим охлаждения	Воздушное охлаждение
Геометрическое увеличение	300 раз
Плоский детектор
Размер пикселя	85 мкм
Пиксельная матрица	1536*1536 мм
Эффективная площадь изображения	130*130 мм
Скорость кадров в секунду	20 кадров в секунду
Разрядность АЦП	16 бит
Блок управления
Ось X	400 мм
Ось Y	450 мм
Ось Z	200 мм
Ось R	Наклон 45°
Режим управления	Функция автоматической навигации по изображению, Режим перемещения по заданным координатам с помощью клавиатуры, Позиционирование работы мыши
Режим программирования	Функция обучения, автоматическое позиционирование ЧПУ
Параметры
Питание	230 В, 50/60 Гц
Габариты	± 100511801625 мм
Вес	± 1400 кг

Пример работы оборудования:

HT100L