Система рентгеновского контроля электроники FX100

Цена по запросу

Описание

Система рентгеновского контроля электроники FX100 разработана специально для выявления дефектов пайки электронных компонентов, обеспечивая соответствие стандартам качества для различных областей применения.

Функции и особенности

Комплексное обнаружение дефектов: специально разработано для обнаружения дефектов сварки в различных электронных компонентах, включая печатные платы, SMT-сборки, корпуса IC, BGA, CSP и полупроводников.
Высокая точность: обеспечивает точную и правильную идентификацию дефектов, обеспечение целостности и производительности электронных узлов.

Технические характеристики:

Модель	FX100
Рентгеновская трубка
Вид трубки	Герметичная трубка
Напряжение трубки	90 кВ
Ток в трубке	200 мкА
Детальное разрешение	5 мкм
Режим охлаждения	Воздушное охлаждение
Геометрическое увеличение	125 раз
Плоский детектор
Размер пикселя	85 мкм
Пиксельная матрица	1536*1536 мм
Эффективная площадь изображения	130*130 мм
Скорость Кадров в секунду	20 кадров в секунду
Разрядность АЦП	16 бит
Блок управления
Рабочая область для образцов	500 мм
Ось X	340 мм
Ось Y	330 мм
Ось Z	300 мм
Ось Q	Рабочая область для образцов вращается горизонтально на 360°
Ось R	Наклон 70°
Режим управления	Функция автоматической навигации по изображению, Режим перемещения по заданным координатам с помощью клавиатуры, Позиционирование работы мыши
Режим программирования	Функция обучения, автоматическое позиционирование ЧПУ
Параметры
Питание	110-230 В, 50/60 Гц
Габариты	± 145013601600мм
Вес	± 1600 кг

Пример работы оборудования:

FX100